藤野代理日本大冢 OTSUKA 帶刻度顯微鏡 183-100X 日本軍工技術(shù)
2019-08-31 10:56:42
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.日本大冢(OTSUKA) 帶刻度顯微鏡 183-100X
一、規(guī)格:
倍率：20倍，40倍，60倍，100倍
實視野：7.2毫米，4.3毫米，2.2毫米，1.8毫米
測量范圍：6.0毫米，3.4毫米，1.6毫米，1.2毫米
最小刻度：5/100毫米，2/100毫米，2/100毫米1/100毫米
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